썬마이크로시스템즈(www.sun.com)는 RFID 솔루션 및 센서의 호환성과 컴플라이언스 준수에 대한 테스트를 효율적으로 할 수 있도록 썬의 RFID 테스트 센터와 환경 테스트 연구소인 ‘썬 어드밴스드 프로덕트 테스팅(이하 APT)’을 통합했다고 27일 밝혔다.
썬은 그 동안 다수의 고객이 이용해 왔던 썬 RFID 테스트 센터의 효용성을 더욱 높이고 보다 나은 상호호환성, 적합성 및 성능 등과 같은 요인을 테스트 할 수 있도록 하기 위해 기존에 텍사스에 위치한 RFID 테스트 센터를 콜로라도로 옮겼다.
이를 통해 썬 RFID센터의 고객은 APT에서 과열, 충격, 습기, 진동, 고도 및 압력 등 환경적인 영향에 대해서도 테스트를 할 수 있게 됐다.
썬의 새로운 RFID 테스트 센터는 덴버 외곽에 위치한 썬의 루이빌 캠퍼스에 위치하고 있다. 본 센터는 세계 최초로 RFID솔루션의 환경적 압력 테스트와 상호운영성, 표준 컴플라이언스 테스팅을 동시에 실시 할 수 있도록 한 곳으로 본 센터 및 썬 RFID솔루션에 대한 자세한 내용은 www.sun.com/rfid 에서 볼 수 있다.
[박은수 기자(eunsoo@boannews.com)]
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