세계적인 임베디드 SW컨퍼런스 참가해 ‘스패로우 3.0’ 전시
[보안뉴스 김정완] 파수닷컴(대표 조규곤)은 지난 9월20일부터 23일까지 미국 보스톤에서 열린 세계적인 임베디드 SW컨퍼런스인 ‘ESC(Embedded Systems Conference) 2010’에 국내기업으로는 유일하게 참가해 정적 오류분석 시스템 ‘스패로우(SPARROW) 3.0’을 전시했다고 28일 밝혔다.
올해로 18회째를 맞은 ‘ESC 2010’는 임베디드 시스템에 관한 SW 및 운용체제 전반을 아우르는 세계 최대 규모의 행사로, 금년에는 우주항공·국방·로봇·제조·의료분야의 360여 세션과 90여 기업들이 대거 참가해 성황을 이루었다.
마이크로소프트, IBM, 델, 클락워크 등 세계적인 SW기업 및 테스트 전문기업과 함께 참가한 파수닷컴은 지난 8월 국내에서 출시한 ‘스패로우 3.0’을 선보이며, 최근 임베디드 SW분야의 최대 관심사인 품질 보증을 위한 스마트한 테스트 기법을 제시했다.
파수닷컴은 ‘스패로우 3.0’ 전시를 통해 개발 완료 전에도 치명적인 오류를 정밀하게 검출해 제품 출시 후 사고 발생을 미연에 방지하는 정적 오류분석의 진수를 선보였다. 특히 파수닷컴 부스를 찾은 참관객들은 외산 제품 대비, 오류 발생 지점은 물론 오류 발생을 야기시키는 모든 위치와 발생 경로를 보다 쉽고 직관적으로 파악할 수 있다는 점과 불필요한 오류 알림 메시지를 내지 않는다는 점에 많은 관심과 호응을 보였다.
이에 조규진 파수닷컴의 PA(Program Analysis) 사업본부장 겸 상무는 “임베디드 SW 결함 문제는 일상 생활이나 생명과 직결된 부분이 많기 때문에, 여느 산업 군보다 테스트를 철저히 거쳐야 한다”고 강조하고 “앞으로 임베디드 SW의 복잡도는 계속해서 높아질 것이므로, 그에 따른 테스트 역시 갈수록 중요해 질 것이다. 이와 같은 변화로 인해 ‘스패로우’와 같이 SW 테스트를 효과적으로 수행하기 위한 차별화된 자동화 도구가 필요하게 될 것”이라고 말했다.
한편 파수닷컴은 이번 ‘ESC 2010’ 참가를 시작으로, 빠른 속도로 열리고 있는 임베디드 SW 테스트 시장의 해외 수요를 본격적으로 공략해 나갈 계획이라고 전했다.
[김정완 기자(boan3@boannews.com)]
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